2024年3月12日发(作者：)

PL检测系统

一、功能简介

本系统利用特定激光器，经光学系统得到方形激光光斑，光斑面积达200mmX200mm。

在激光光斑作用下，硅片或电池片激发出红外光，经红外相机采集硅片或电池片的红外图像，

利用红外图像进行缺陷检测。

该PL检测仪适用于单晶或多晶的硅片和电池片，可独立成设备，也可嵌入产线，进行

在线检测。可检测的缺陷包括黑心、黑边、黑团块、隐裂、裂纹、碎片、低效片、黑线、缺

角、崩边等。该系统采用深度学习与人工智能算法，可实现单晶和多晶的各种缺陷自动识别。

该系统已成功用于某光伏设备制造企业。在此基础上可根据客户具体要求进行定制开发。

二、技术参数

1、检测对象：单晶电池片、多晶电池片、单晶硅片、多晶硅片；

2、最大尺寸：200mmX200mm；

3、检测效率：单次检测时间小于0.5秒；

4、可识别缺陷种类：黑心、黑边、黑团块、隐裂、裂纹、碎片、低效片、黑线、缺角、崩

边等；

5、缺陷自动判别，无需人工；

6、可用于电池片分选，也可用于焊前或焊后缺陷检测；

7、激光功率可调，适应多种类型电池片；

8、所有缺陷判别均参数化，用户可通过参数调整实现个性判定标准；

9、采用网口通信，可自成设备，也可嵌入产线，进行在线检测；

10、可实现多个小片的同时检测；

11、软件界面友好，易于操作。

12、系统组成：激光光源、红外相机、高清镜头、滤光片、检测软件。

三、特色

1、 非接触式检测，避免二次损坏；

2、 特定图像采集系统（无需暗室），图像质量高；

3、 检测效率高，可嵌入产线，进行在线检测；

4、 采用人工智能算法，实现缺陷自动识别，无需人工干预；

5、 适应范围广，可用于各种类型的硅片或电池片，也适用于各个阶段的缺陷检测；

四、实验测试情况