2024年5月23日发(作者：)

前房深度测量技术操作规范

第一节 中央前房深度测量

【适应证】

1.了解眼球的解剖参数。

2.筛查闭角型青光眼患者。

3.评估青光眼类型，如睫状环阻塞性青光眼等。

4.术后浅前房的疗效评价。

5.在一些疾病，如眼外伤后，间接了解睫状体病变。

【禁忌证】

在角膜大面积擦伤或结膜、角膜感染等情况出现时，不

宜进行此项检查。

【操作方法及程序】

1.手电筒光测量法

(1)检查:将聚光手电筒光水平从受检者颞侧，沿虹膜平

面向内眦方向照人，观察虹膜被照亮的部分。

(2)结果判断:鼻侧虹膜全被照亮时为深前房;鼻侧虹膜

小环至其到虹膜周边部中点被照亮时为中深前房;仅鼻侧瞳

孔缘虹膜被照亮时为浅前房。

2. Haag-Streit All定法

(1)用Haag-Streit厚度测定器I和II测量。测定器I

测量角膜厚度，测定器II测量晶状体前囊膜至角膜上皮层

之间距离，将后者的结果减去前者的结果为中央前房深度。

(2)测最前，将裂隙灯显微镜右侧目镜换上裂隙分影目

镜。

(3)将Haag-Streit厚度测量器装在Haag-Streit 900

型裂隙灯上，调整裂隙灯，使其与显微镜呈40°- 45°，并

使裂隙光束通过厚度测定器的裂隙光阑，垂直聚焦于瞳孔中

央的角膜表面，沿受检眼视轴照人。

(4)受检者注视裂隙光带。检查者转动厚度测定器上方

的刻度盘，并调整裂隙灯显微镜的高度，使分裂影像分成上

下相等的两半，且位于瞳孔领内。

(5)刻度盘恢复至“0"位。转动刻度表。使用测量器工

时，使分裂影像的上方后表面(角膜内皮层)与下方前表面

(角膜上皮层)相交。使用测量器II时，使分裂影像的上方

后表面(晶状体前囊膜)与下方前表面(角膜上皮层)相交。

(6)读取刻度盘上读数。

(7)以上测量步骤重复2-3次，取平均值。

3.超声波测量法

(1)受检者采用平卧位。

(2)眼部滴表面麻醉药。

(3)受检眼球表面加盛有生理盐水的水浴杯，将超声探

头浸于水内，距眼球0. 5-1. 0cm，并位于角膜顶点正上方，

指向眼轴方向。

(4)从示波器上选取波型，测量角膜后表面至晶状体前

表面的距离，即为前房深度。

【注意事项】

1.手电筒光测量法是简易的初步评价前房深度方法。

Haag-Streit测定法和超声波测量法的准确性均较高。

2.应用Haag-Streit测定法时，也可单用测量器n直接

测量晶状体前囊膜至角膜内皮层之间的距离，但结果不如应

用测量器I和II测量时准确。

3.应用超声波法测量时，超声探头不能触及角膜。

第一节 前房周边深度测量法

【适应证】

1.筛查闭角型青光眼患者。

2.间接了解前房角的宽窄。

3.评价散瞳后闭角型青光眼急性发作的风险。

4.术后浅前房的疗效评价。

【禁忌证】

不能安坐在裂隙灯显微镜前接受检查的患者。

【操作方法及程序】

1. 患者头部固定于裂隙灯托架，注视前方。

2.裂隙灯光尽量调窄，与周边部角膜大约呈垂直方向照

人。

3.测量部位位于颞侧角膜缘角膜和虹膜快要消失的地

方。

4.将角膜显微镜调至与裂隙灯呈60°，观察角膜内壁与

虹膜周边部之间的距

5.以角膜厚度(corneal thickness, CT)为记录单位。

6.当周边前房深度

1/4CT时为浅前房。

【注意事项】

1.本法为van Herick法.

2.也可将测量部位选于6点钟位角膜缘，周边前房深度

成

1/3CT时为浅前房。