2023年12月15日发(作者：)
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SD CARD检验程序及检验标准
SD CARD检验程序及检验标准：
1.包装是否按照PO要求设计制作包装
2.配件是否按照PO要求提供。（不可以少件，错件）。
3.检查外观尺寸。
A．外壳颜色是否与PO要求相符。
B．SD CARD PIN脚不可以有脏污。
C．外壳不可以有毛边，缩水、脏污、刮伤、接合处不可以有裂缝（尤其是PIN脚处）。
E．尺寸是否是24*32*2.1（MM），W*L*H。
4.功能检查：
A．将SD CARD 插入USB2.0读卡器﹐连电脑/手提电脑檢驗以下項目：
項次
檢驗
項目
不 良 描 述 檢驗工具/方式
电脑/目視
目視
目視
目視
目視
目視
目視
目視
目視
缺點等級
CRI MAJ MIN
电脑找不到SD CARD盘符
1
连电脑检查项目
无法进入此盘符
无法COPY资料到SD CARD，或者资料丢失
2
3
4
5
6
插卡不顺、卡死（在读卡器良好的前提下）
格式化、 连电脑格式化后无法工作，或无法格式化
将防写保护开关至LOCK，不显示卡已经写保护且防写保护
还可以删除、存储资料。
存储 无法正常存储资料，断电后资料丢失
删除 无法正常删除SD CARD内的资料
坏区
用闪存检测软件（ATTO DISK BENCHMARK）检查SD CARD，发现有坏区现象。
1. 取5PCS，（根据定单数量来定）格式化50次，存储，删除 ，测试操作2H后SD CARD无法
7 老化 正常工作
2. 闪存检测软件（ATTO DISK BENCHMARK）连续读写工作2H后无法正常工作。
目視
；.
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B．将SD CARD 插入现有各型号数码相机（确保相机功能都是OK），检查以下项目：
項次
檢驗
項目
不 良 描 述 檢驗工具/方式
目視
目視
目視
目視
目視
缺點等級
CRI MAJ MIN
数码相机无法开机，或开机后出现错误提示
1
连数码相无法拍照存储照片
机
拍照若干后，无法预览照片，或者照片出现马赛克，
2
3
4
5
6
插卡不顺、卡死
用相机格式化菜单格式化后无法工作，或无法格式格式化、
化
将防写保护开关至LOCK，不显示卡已经写保护且防写保护
还可以删除、存储照片。
存储 无法存储照片，断电后照片丢失
删除 无法删除SD CARD 照片
老化
连续拍照、摄影、格式化操作2H后SD CARD无法正常工作
目視
目視
目視
目視
C．连电脑SD CARD 容量/读写速度检查。用闪存检测软件（ATTO DISK BENCHMARK）测试读写速度，测试没有在此范围内均为MAJ。
型号
标准范围
64MB 128MB
123±2MB
256MB
245±2MB
512MB
493±2MB
1GB
978±2MB
实际标准
容量范围 59±1MB
读写速度范围
写入速率7.7±1MB/s，读取速率8.2±1MB/s。（在不同电脑测试结果不一样，此数据是与LEXAR牌子SD CARD相比较得出）
D. COPY文件测试：
COPY一个与SD CARD 实际显示可用容量一样大小的文件到SD CARD。如果不可以完全COPY文件到SD CARD显示磁盘已满或COPY完成后不能够读取SD CARD 内的资料或资料出错，均为MAJ。
；.
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5环境测试：（因为无测试设备，现在无法在我司完成此测试，需工厂测试并提供测试结果）
5.1低溫儲存測試
目的：驗証SD CARD在低溫環境放置后是否正常
范圍：適用于本公司所有SD CARD產品。
測試設備：恆溫恆濕箱（型號：THS-B4H±150）
樣品數量： SD CARD：5PCS
測試方法：將恆溫恆溫濕箱設定為下述條件，其中濕度可不作控制。
步驟
1
2
3
4
溫度
25℃
25℃~-20℃
-20℃~-20℃
-20℃~25℃
濕度
---
---
---
---
測試時間 累計時間
(單位小時) (單位小時)
0
1
24
1
0
1
25
26
將SD CARD裝入相机檢查功能正常后，放入恆溫恆濕箱且處于關機狀態。
試驗結束后取出樣品，在常溫放置2小時后，再進行全功能檢查。
判定標准：
SD CARD在上述條件下于試驗結束后測試其基本功能及外觀、結構均無變異。
5.2高溫存储测试：
目的 ：驗証SD CARD在高溫環境放置后是否正常
范圍：用于本公司所有SD CARD產品。
測試設備： 恆溫恆濕箱
測試數量：SD CARD：5PCS
測試方法：將恆溫恆溫濕箱設定為下述條件，其中濕度可不作控制。
測試時間 累計時間
步驟 溫度 濕度
(單位小時) (單位小時)
1 25℃ --- 0 0
2 25℃~40℃ --- 1 1
3 40℃~40℃ --- 24 25
將SD CARD裝入相机檢查功能正常后，放入恆溫恆濕箱且處于關機狀態。試驗結束后取出樣品，在常溫放置2小時后，再進行全功能檢查。
判定標准：
SD CARD在上述條件下于試驗結束后測試其基本功能及外觀、結構均無變異
5.3．溫度循环测试：
目的：驗証SD CARD在高低溫交替變化放置后是否正常
范圍：適用于本公司SD CARD產品
測試設備：恆溫恆濕箱
樣品數量：SD CARD ：5PCS。
測試方法：將恆溫恆濕箱設定為下述條件且處于工作狀態。
步驟
；.
溫度 濕度 測試時間 累計時間
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（單位小時） （單位小時）
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
25℃
25℃~40℃
40℃~40℃
40℃~-15℃
-15℃~-15℃
-15℃~40℃
40℃~40℃
40℃~-15℃
-15℃~-15℃
-15℃~25℃
---
90%
90%
---
---
90%
90%
---
---
---
0
1
24
1
24
1
24
1
24
1
0
1
25
26
50
51
75
76
100
101
將SD CARD裝入相机檢查功能正常后，放入恆溫恆濕箱且處于關機狀態。試驗結束后取出樣品，在常溫放置2小時后，再進行全功能檢查。
判定標准：SD CARD在上述條件下于試驗結束后測試其基本功能及外觀、結構均無變異。
6.拆机工艺检查。（每型号各拆1PCS）
A. 重点确认FLASH牌子是否是按PO要求.如果没有按PO要求。通知香港公司作出决定。
B. 确认到如果FLASH不是新料，将不接受此批货。
7.裸机跌落测试：从1.5M高处自由落下，每个面各跌落一次共6次。完后所有功能需正常。
8.整箱跌落测试：以上都测试OK后，按公司跌落标准跌落。完成后检查所有功能需正常。
9.注釋定義
缺陷定義
CRI（致命缺陷 ）﹕危害制品的使用者及攜帶者的生命或安全之缺點 。
MAJ（重點缺陷）﹕不能達成制品的使用目的之缺陷。
MIN（次要缺陷）﹕不影響制品使用之缺點。
10.抽样计划：
1． 按照 MIL-STD 105D 普通水平 III级. 正常單次抽樣計划。
2． 品質允收水准（AQL）﹕CRI＝0 MAJ＝1.0 MIN＝2.5。
11.测试条件与设备：
条件： 1.室溫25±5℃﹐濕度:30%~90%范圍內。
2.目視距离是指眼睛到SD CARD本体的距离﹐以30-45cm為准。
3.目視時間3秒
设备：1. luggable computer.
2. USB2.0读卡器/USB2.0接口。
3. 作業系統﹕ Windows98、Windows ME、Windows 2000、Windows XP
CPU﹕Pentium III MHz以上
RAM：128MB以上。
4. 闪存检测软件（ATTO DISK BENCHMARK）。
5. 恆溫恆濕箱。
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