2024年4月23日发(作者：)

X’Pert

HighScorePlus

使用手册

^_^ Cally Mo ^_^

E-mail: morype@

一、 进入HighScorePlus

1.在开始菜单或者桌面上找到“HighScorePlus”图标，双击，一个简单的启动页面

过后，就进入到HighScorePlus的主窗口。

2.选择菜单“File”菜单下的“Open”命令，即打开一个读入文件的对话框。

工具“”具有同样的功能。

3. 在文件名上双击，这个文件就被“读入”到主窗口并显示出来。

HighScorePlus的另一种进入方式是在电脑里面双击一个“.RD”或者“.xrdml”

文件，也会进入HighScorePlus，并将该文件读入。

下拉菜单

4.软件界面介绍

工具栏

分析结果栏

图形显示窗口

物相检索快捷键

二、基本功能操作

1. File菜单

产生一个空白的文档

打开文件，选择需要处理的衍射花样

在原有花样的基础上再插入一个新的花样

关闭

保存文件

另起名字保存文件

设置页面

打印图形

打印预览

打印设置

分析文件通过Email发送出去

文件的属性

退出

(1) “Save as”命令可以将当前窗口中显示的图谱数据以各种格式保存，以方便用

其他作图软件作图和作其他处理。最常见的如格式“*.ASC”，这种格式可以用

Excel打开。需要注意的是该命令保存的是当前窗口中显示的图谱，如果保存前

作过平滑处理等，则保存的数据为平滑后的数据而非原始数据。

(2) “Insert”命令可以将两个衍射花样在同一个窗口里进行比较。

2. Edit菜单

撤销

不能撤销

剪切

拷贝

粘贴

删除

全选

3. View菜单

显示Object Inspector

锁定窗口位置

窗口默认设置

附加图形窗口

显示各种窗口

显示扫描数据窗口

显示峰的数据窗口

显示PDF数据窗口

显示原始数据窗口

显示目标检查窗口

显示定量分析窗口

显示精修数据窗口

显示结构图

显示Fourier图

显示键长和键角

桌面设置

工具条

指针模式

显示模式

主图

附图

手工设定

恢复－放大缩小

全图恢复

最大主图

其中：（1）Desktop：

桌面的命名

保存桌面设置

删除桌面设置

无设置

物相，有少量工具按钮

物相，无工具按钮

物相检索

结构精修，有少量工具按钮

结构，显示全部工具按钮

（2）Toolbars：

标准工具条

XRD工具条

画图工具

导向工具条

批量工具条

读出工具条

花样工具条

附图类型

主图

显示模式

指针模式

修正工具条

寻找花样

精修工具条

桌面

用户自定义

4. Treatment菜单

确定背底

删除背底

寻峰

峰形拟和

删除计算的峰形

剥离K-Alpha2

图形平滑处理

校正

夹住范围

插入峰

校准到指定的文件

合并文件

其中：Corrections：

自动发散狭缝转换成固定

修正步长

修正样品高度（校正位移）

修正系统系数

修正坏点

修正温度/压力

修正光束溢出

5. Reference Patterns菜单

寻找花样

用户花样加到数据库

从数据库中删除用户花样

将花样保存在子集中

子集装入花样表中

设置所有的手动坐标

去掉全部花样

6. Analysis菜单

物相鉴定

结晶学

结构精修

其中：（1）Crystallography：

搜寻单胞

精修单胞

约化单胞

转化单胞

（2）Rietveld：

精修模式

开始花样模拟

开始精修

停止精修

编辑自动精修步骤

编辑排斥的区域

编辑背底点

编辑扫描步骤

显示校正矩阵

显示精修的值

输入新的结构

7. Report菜单

报告页面/打印设置

建立RTF报告

简历Word报告

编辑报告格式

8. Tools菜单

光谱线

标定峰

设置峰的状态

布拉格计算

α、β计算

质量吸收系数计算

谢乐公式计算

元素周期表

对称性搜寻

物相自动默认检索

物相自动全部检索

物相自动普通检索

物相自动矿物检索

少量自动矿物检索

打印所有的

9. Customize菜单

文档设置

应用模板

程序设置

仪器默认值

文件联系

输入用户设置

输出用户设置

输入参数

编辑标题/页题

编辑参数设置

编辑用户批处理程序

三、 物相检索

1. 打开HighScorePlus软件，读入需要分析的文件。

2. 点击“IdeAll”。

或者：

3. 检索结果如下：

4. 选定合适的PDF卡（尽可能选用卡片号靠后的，这样准确性要好一些）。

对于同一种物质的不同来源，可以选用相同的PDF，从而进行对比，故可以自

己输入已知的PDF卡号。

或者：

点击用红圈圈住

的其中一个，在

弹出的对话框里

输入已知的

PDF卡号，再点

击对话框里的

“Load”即可。

5. 对衍射花样进行拟和Fit。

点击此图标，待图形区出现一条蓝色

线后，选定需要拟和fit的峰，按右键，

选定”Fit Profile”

6. 点击“Treatment”菜单下的“Determine Background”进行背底的扣除。

扣除方式有两种，一种是自动模式：

图中绿色线即为选

定的背景底线。达到

自己的要求后，点击

“Subtract”

接着上一步

后，点击

Replace

另外一种是手动模式：

选定自动模式里的“Move Base

points”时，可以移动每一个图中

绿色线上的base点从而达到自己

的要求；其他两个模式分别为增加

和减少base点。设置好背底后，

与手动模式相同，先点击

“Subtract”，再点击“Replace”

7.若想剥离K－α2，则先点击“Treatment”菜单下的“Strip K－Alpha2”命令。

接着点击弹出的对话框里的“Strip K－Alpha2”。

最后点击“Replace”即可。

8. 导出数据。

若要求得到衍射峰（如d值，半高宽，峰高等）的信息，则可以点击“Reports”

菜单中的“Create RTF Report”或者“Create Word Report”。那么产生的报告里有

详细的衍射峰的信息。

若要得到衍射图谱的数据，从而可以让自己在Excel表里面把这个谱图作出来，

则可以点击“File”菜单里面的“Save as”，选定保存类型为“*.ASC”即可。

9. 补充

（1）对于经常分析的样品，熟悉其选用的PDF卡后，可以不用经过第二步的

“IdeAll”，而是点击“Treatment”菜单下的“Search Peaks”，在弹出的对话框里设

置好各个参数后，点击“Search Peaks”，再点击“Replace”即可。

然后输入PDF卡片号，拟和Fit…..

设置的值越大，其拟和得到

的峰值就越接近真实。

大部分为默认值。对于宽峰，

Maximum tip width值要增

大；对于窄峰，Minimum tip

width值要减小。

一般为2。对于宽峰，设置

的值要增大（3～6）。

（2）计算结晶度

第一步：先找到一个已知结晶度的标样数据，如HighScorPlus软件自带有一个

结晶度为50的数据：

C:Program Files PANalytical X’pert Highscore PlusTutorialCryst

第二步：打开这个文件

第三步：寻峰，再拟和Fit

第四步：

用鼠标点击“Scan

List”一栏下面的

list。找到“Object

Inspector”窗口下

“Scan Statistics”

在“Constant Background”里输入值，直到

“Crystallinity”值为50％为止。记住这个

“Constant Background”里的值m，如这里

的290.75。

第五步：打开自己要计算结晶度的文件

第六步：重复第三步和第四步，在“Constant Background”输入m（如290.75），

那么“Crystallinity”里显示的值即为此样品的结晶度。

（3）计算X射线对物质的穿透深度

第一步：点击“Tools”菜单下的“MAC Calculator”

第二步：在弹出的对话框里：

在这一栏里输入物质分子式，

并按下EnterEnter键。键。

点击“Calculate Penetration 点击“Calculate Penetration

Depth…”

Depth…”

第三步：

输入物质密度、入射角

等参数，则可以在

“Penetration depth”

里看到其穿透深度。

五、Rietveld全谱拟合

建议：先选定自动精修模式，再选定半自动精修模式

具体步骤如下：

第一步：打开需要精修的文件（这里以Si为例），点击“IdeAll”进行物相检索。

第二步：

将“Profile Base Width”

里的值改为“7”

第三步：

在“Pattern List”里点住

“00-027-1402”按右键，在

下拉菜单里点击“Convert

Pattern to phase”

第四步：

在“Refinement Control”

里点击“Silicon，syn”，

在子菜单里点住“Atomic

Coordinates”按右键，在

出现的下拉菜单里点击

“Add New Atom”

第五步：

将“”移到这一栏

第六步：

在“Element”里输

入“Si”，“Wyckoff

Position”里输入

“8a”

第七步：

点击“Start Rietveld

Refinement”

注意：精修模式为

“Automatic Mode”

第八步：

将精修模式改为

“Semi-automatic Mode”

第九步：

将“Refine”这一栏里

所有的“V”都去掉，

只留下“Silicon，syn”

里有。

第十步：

先在相应的选项里画“V”，进行“Start Rietveld Refinement”后再去掉“V”；接着在

下一步的选项里画“V”….，反复操作，直到达到自己的要求。

（1）

（2）

（3）

（4）

（5）

（6）

第十一步：

Rietveld是否好，其判断标准为：

R profile: ﹤10

Goodness of Fit: ﹤1.5(最关键)

这些值是否能够达到要求也

要视样品而定。有时候若无

法达到，则只要其值尽量小

了也就可以了。