2024年4月26日发(作者:)

S.M.A.R.T.

目前主流硬盘都支持S.M.A.R.T.

S.M.A.R.T的全称为“Self-Monitoring Analysis and Reporting Technology”,即

“自我监测、分析及报告技术”。支持S.M.A.R.T技术的硬盘可以通过硬盘上的监测指令

和主机上的监测软件对磁头、盘片、马达、电路的运行情况、历史记录及预设的安全值进

行分析、比较。当出现安全值范围以外的情况时,就会自动向用户发出警告。

目录

基本信息

S.M.A.R.T究竟是什么?

S.M.A.R.T在何处?如何工作?

S.M.A.R.T信息表由什么组成?

通过软件查看硬盘的健康状况

SCSI系统中的S.M.R.A.T技术

S.M.A.R.T的预测效果

特殊问题的解答

基本信息

S.M.A.R.T究竟是什么?

S.M.A.R.T在何处?如何工作?

S.M.A.R.T信息表由什么组成?

通过软件查看硬盘的健康状况

SCSI系统中的S.M.R.A.T技术

S.M.A.R.T的预测效果

特殊问题的解答

• 总结

基本信息

S.M.A.R.T.(自监测、分析、报告技术):这是现在硬盘普遍采用的数据安全技术,在

硬盘工作的时候监测系统对电机、电路、磁盘、磁头的状态进行分析,当有异常发生的时

候就会发出警告,有的还会自动降速并备份数据。

早在上个世纪九十年代,人们就意识到数据的宝贵性胜于硬盘自身价值,渴望有种技

术能对硬盘故障进行预测并实现相对安全的数据保护,因此S.M.A.R.T技术应运而生。目

前,虽然大多数硬盘的平均无故障时间(MTBF)已达30000~50000小时以上,然而对于

不少用户,特别是商业用户而言,一次普通的硬盘故障便足以造成灾难性后果,所以时至

今日,S.M.A.R.T技术仍为我们所用。

S.M.A.R.T究竟是什么?

该技术由Compaq公司率先开发,IBM、希捷、富士通、昆腾等硬盘厂商参与修正,

并融合了Compaq公司的IntelliSafe诊断技术和IBM的PFA检测技术特点。

1995年5月,Compaq公司向Small Form Factor(SFF)委员会提交了IntelliSafe的

技术标准报告(SFF-8035i);1996年1月进行1.0版的修正(SFF-8035R2);1996年6月

进行了1.3版的修正(SFF-8055),并联合IBM等公司向SFF正式申请将IntelliSafe技术

加入到ATA-3的行业标准中,正式更名为S.M.A.R.T

作为行业标准,S.M.A.R.T规定了硬盘制造厂商应遵循的标准。满足S.M.A.R.T标准的

条件主要包括:在设备制造期间完成S.M.A.R.T需要的各项参数、属性的设定;在特定系

统平台下,能够正常使用S.M.A.R.T;通过BIOS检测,能够识别设备是否支持S.M.A.R.T

并可显示相关信息,而且能辨别有效和失效的S.M.A.R.T信息;允许用户自由开启和关闭

S.M.A.R.T功能;在用户使用过程中,能提供S.M.A.R.T的各项有效信息,确定设备的工作

状态,并能发出相应的修正指令或警告。在硬盘以及操作系统都支持S.M.A.R.T.技术并且

该技术默认开启的的情况下,在不良状态出现时S.M.A.R.T.技术能够在屏幕上显示英文警

告信息:“WARNING:IMMEDIATLY BACKUP YOUR DATA AND REPLACE YOUR

HARD DISK DRIVE,A FAILURE MAY BE IMMINENT.” (警告:立刻备份你的数据同

时更换硬盘驱动器,可能有错误出现。)

S.M.A.R.T在何处?如何工作?

S.M.A.R.T信息保留在硬盘的系统保留区(service area)内,这个区域一般位于硬盘0

物理面的最前面几十个物理磁道,由厂商写入相关内部管理程序。除了S.M.A.R.T信息表

外还包括低级格式化程序、加密解密程序、自监控程序、自动修复程序等。监测软件通过

一个名为“SMART RETURN STATUS”的命令(命令代码为:B0h)对S.M.A.R.T信息进行

读取,且不允许最终用户对信息进行修改。

S.M.A.R.T信息表由什么组成?

S.M.A.R.T标准中采用二进制代码作为S.M.A.R.T的基本指令,并规定写入标准的寄存

器中,形成特定的S.M.A.R.T信息表,以供正常检测和运行。S.M.A.R.T指令分主指令

(Command)和次指令(Subcommands)。主指令主要提供设备是否支持S.M.A.R.T或忽略

某一次指令特征的信息。而次指令则提供支持S.M.A.R.T设备的检测信息。这些指令主要

由设备厂商写入,一些专业硬盘维修软件可以通过这些代码进行设备的检测。

通过软件查看硬盘的健康状况

综述

S.M.A.R.T技术的原理是通过侦测硬盘各属性,如数据吞吐性能、马达起动时间、 寻

道错误率等属性值和标准值进行比较分析,推断硬盘的故障情况并给出提示信息,帮助用

户避免数据损失。S.M.A.R.T因此规定了专门的检测参数,由于硬盘结构、性能和定位上

的不同,除了ATA-3标准规定的参数外,厂商可以根据自己产品的特性提供不同的

S.M.A.R.T检测参数。普通用户则可以通过常用的系统工具(如AIDA32)来查看,并通过这

些参数了解硬盘的“健康”状况。

接下来,我们以希捷硬盘的S.M.A.R.T检测参数为例,具体分析主要参数的含义。

ID检测代码

ID检测代码不是唯一的,厂商可以根据需要,使用不同的ID代码或根据检测参数的

多少增减ID代码的数量。例如,西数公司的产品ID检测代码为“04”,检测的参数是

Start/Stop Count(加电次数),而富士通公司同样代码的检测参数却为“Number of

times the spindle motor is activated”(电机激活时间)。

属性描述

(Attribute Description)

属性描述(Attribute Description)即检测项目名称。可由厂商自定义增减,由于ATA

标准不断更新,有时候同一品牌的不同型号产品也会有所不同。但必须确保S.M.A.R.T规

定的几个主要检测项目(虽然不同厂商对检测项目都有特定的命名规则,但这些监测项目的

实质其实是一样的)。

Read Error Rate 错误读取率

Start/Stop Count 启动/停止次数(又称加电次数)

Relocated Sector Count 重新分配扇区数

Spin up Retry Count 旋转重试次数(即硬盘启动重试次数)

Drive Calibration Retry Count 磁盘校准重试次数

ULTRA DMA CRC Error Rate (ULTRA DMA奇偶校验错误率)

Multi-zone Error Rate 多区域错误率

Vendor-specific 厂商特性

需要注意的是,不同厂商、不同类型产品的属性描述不尽相同。对用户而言,无须深

入了解它们的具体含义,只需了解属性监测值的含义即可。

阈值

(Threshold)

又称门限值。是由硬盘厂商指定的可靠的属性值,通过特定公式计算而得。如果有一

个属性值低于相应的阈值,就意味着硬盘将变得不可靠,保存在硬盘里的数据也很容易丢

失。可靠属性值的组成和大小对不同硬盘来说是有差异的。这里需要注意的是,ATA标准

中只规定了一些S.M.A.R.T参数,它没有规定具体的数值,“Threshold”的数值是厂商

根据自己产品特性而确定的。因此,用厂商自己提供的检测软件往往会跟Windows下的

检测软件(例如AIDA32)的检测结果有较大出入。这里,我们推荐以厂商软件的检测结果为

标准,因为Windows环境下,系统要求硬盘的启动程序比DOS下多得多,这可能导致硬

盘S.M.A.R.T值比DOS环境下检测的波动更大。以参数Raw ErrorRate(错误读取率)为例:

该参数的计算公式为10×log10(主机和硬盘之间所传输数据的扇区数)×512×8/重读的扇

区数。其中 “512×8”是把扇区数转化为所传输的数据位(bits),这个值只在所传输的数

据位处于10^10~10^12范围时才作计算,而当Windows系统启动后,主机和硬盘之间

所传输的数据扇区大于或等于10^12时,此值将重新复位。这就是为什么有些值在不同的

操作环境、不同检测程序下时波动较大的原因。

属性值

(Attribute value)

属性值是指硬盘出厂时预设的最大正常值,一般范围为1~253。通常,最大的属性值

等于100(适用于IBM、昆腾、富士通)或253(适用于三星)。当然,也有例外的时候,比如

由西部数据公司生产的部分型号硬盘,就用了两个不同的属性值,最初生产时属性值设为

200,但后来生产的硬盘属性值又改为100。

最大出错值

(Worst)

最大出错值是硬盘运行中曾出现过的最大的非正常值。它是对硬盘累计运行的计算值,

根据运行周期,该数值会不断地刷新,并且会非常接近阈值。S.M.A.R.T分析和判定硬盘

的状态是否正常,就是根据这个数值和阈值的比较结果而定。新硬盘开始时有最大的属性

值,但随着日常使用或出现错误,该值会不断减小。因此,较大的属性值意味着硬盘质量

较好而且可靠性较高,而较小的属性值则意味着故障发生的可能性增大。

实际值

(Date)

是硬盘各检测项目运行中的实际数值,很多项目是累计值。例如:图3中的Start/Stop

Count(启停次数),累计的实际值是436,即该硬盘从开始到现在累计加电启停436次。

属性状态

(Status)

这是S.M.A.R.T针对前面的各项属性值进行比较分析后,提供的硬盘各属性目前的状

态,也是我们直观判断硬盘“健康”状态的重要信息。根据S.M.A.R.T的规定,这种状态

一般有正常、警告和报告故障或错误等3种状态。S.M.A.R.T判定出这3个状态与S.M.A.R.T

的 Pre-failure/advisory BIT(预知错误/发现位)参数的赋值密切相关。

当Pre-failure/advisory BIT=0,并且可靠属性值远大于阈值的情况下,为正常提示

“OK”标志。当Pre-failure/advisory BITt=0,并且可靠属性值大于阈值但接近阈值临界

值时,为警告提示“!”标志;当Pre-failure/advisory BITt=1,并且可靠属性值小于阈

值时,为报告故障或错误提示“!!!”标志。

在图2中,我们发现出现“OK”标志的正常状态下有“值正常”(Value is Normal)

和“总是略过”(Always Passing)两个状态说明。它们的区别是:“值正常”表明此项

S.M.A.R.T值是正常的,硬盘没有故障;“永远略过”则表明此项只是某参数的记录,没

有合格与不合格的标准,如“Power on time count”,这个参数只是记录了硬盘已经加

电工作的时间,这个参数应当永远合格,它不用来衡量硬盘的性能,因此显示为“OK:Value

is Normal”。

下面我们以ID为“04”的Start/Stop Count(加电次数)检测参数为例,完整地来理

解这7列参数的意义:从图2中我们看到此参数规定的属性正常值(Attribute value)为

“100”,这个正常值是通过计算公式:“100-硬盘正常使用寿命期间的加电次数/1024”

而给出的。而最大出错值是硬盘运行的累计计算值。例如如果是新硬盘,则加电次数为0,

因此为100-0/1024=100,最大出错值=属性正常值。随着加电次数的增加,该最大出错

值不断变化。厂商规定的阈值为20,即当硬盘的开关电次数达到81920次时

(100-81920/1024=20),最大出错值=阈值,系统就会提示用户备份数据。因此,加电次

数在81920次范围之内,并且最大出错值始终大于阈值20的状态下,均为正常。图中的

加电次数(Date实际值)为107次,因此最大出错值近似为100,状态显示为“OK:Value is

Normal(值正常)”。需要特别注意的是:每一个参数所给出的值都是经过一些特定的计算

公式而给出的。作为用户,只要观察“Worst”和“Threshold”值的关系,并注意状态提

示属性状态信息即可大致了解硬盘的健康状况。

SCSI系统中的S.M.R.A.T技术

由于目前硬盘领域存在ATA和SCSI两种标准,所以不可否认,S.M.A.R.T技术是同时

支持这两个系列的产品的,只是在一些参数设定上存在一些差异,在关键参数上SCSI比

ATA硬盘更为复杂。但在实际运作中,由于用户和使用环境不同,S.M.A.R.T对ATA/IDE

系统的干预比SCSI系统要多一些,而对SCSI故障的判定更为专业和准确些。SCSI硬盘的

S.M.A.R.T技术与ATA硬盘的S.M.A.R.T技术相比更为复杂,以下仅列举SCSI硬盘所特有

参数中的一部分。

Primary Temp:硬盘盘体的工作温度

Secondary Temp:PCB板周围的工作温度

Min and Max Temp:在一段时间内硬盘盘体的最高和最低工作温度

Velocity Observer Count:在一段时间内伺服寻道时偏离指定磁道的次数

12V:12V供电电压值

5V:5V供电电压值

MR Res:MR磁头的电阻值

Sectors Read:在一段时间内从硬盘中读取的扇区数

Sectors Written:在一段时间内数据写入硬盘中的扇区数

在ATA/IDE环境下,由主机上的软件对S.M.A.R.T“报告状态”命令生成的、来自硬

盘的报警信号进行解读。主机对硬盘进行查询,以检查这一命令的状态,如果显示马上要

发生故障,就将告警信号送至最终用户或系统管理员。系统管理员就安排关机时间,以备

份数据和更换硬盘。主系统除对来自硬盘的“报告状态”命令进行评估外,还可对属性和

告警报告进行评估。在SCSI环境下,S.M.A.R.T则只报告“状况完好”或“出现故障”。

由硬盘进行故障判断,再由主机通知用户采取措施。在SCSI标准中有一个检测位,当硬盘

确定可靠性出现问题时,检测位就打上标记并通知最终用户或系统管理员,采取相应措施。

S.M.A.R.T的预测效果

通常我们面对的硬盘故障可以分为两大类:不可预测和可预测。

不可预测故障,通常指不可预料的电子和机械故障,这类故障发生在瞬间,如硬盘加

电状态意外碰撞导致硬盘磁头撞击盘片,或瞬间电流过大引起的芯片或电路故障。通常是

在S.M.A.R.T反映出性能下降之前,硬盘就已经不能工作。而这些只可通过质量、设计、

工艺、制造等方面的改进以及使用过程中规范操作来降低不可预测故障的发生率(例如硬盘

防震技术的开发和进展,有效降低了硬盘震动物理故障的概率)。

可预测故障具有在硬盘完全不能工作前,其相应的参数会随时间发生变化的特点。根

据这一特点,可以通过S.M.A.R.T此类实时信息检测技术监测其属性来进行故障预测、分

析和提供建议,从而加以防范。此类故障中包括软件故障和硬件故障。例如许多机械故障

都被看作是典型的可预测故障,S.M.A.R.T技术对于此类故障就有了用武之地,在发生故

障之前,可以发出提醒用户备份数据的通知,保护用户的数据。

据研究数据表明,利用S.M.A.R.T技术可预测的硬盘故障中,60%为机械性质的,40%

左右则是对软性故障的有效预测。随着S.M.A.R.T技术及相关技术的渐渐成熟,可预测出

的故障种类将越来越多,对故障的防范措施也会变得越来越有效。当然,对不想开启

S.M.A.R.T技术的读者而言,也可以在BIOS设置的“Advanced BIOS Set Up”选项中将

其关闭

特殊问题的解答

1.组建RAID之后,S.M.A.R.T是否仍然生效?

用户组建RAID之后,S.M.A.R.T功能仍然有效,但是这需要RAID卡控制芯片支持

S.M.A.R.T功能。实际上,RAID卡的S.M.A.R.T报警功能与硬盘在常规状态下的报错信息

并无太大差别。报警时,相应模块所对应的硬盘指示灯(通常为红色)会长亮以起到警示作

用。

2.为什么监测不到USB接口外置硬盘的S.M.A.R.T状态?

对于一个USB接口外置硬盘而言,系统将它判定为一个USB设备,监测不到S.M.A.R.T

信息是因为USB标准中没有此项规定。此时虽然硬盘自身仍然在记录S.M.A.R.T状态,但

由于它是USB外设,系统就不会监测它的S.M.A.R.T状态。

3.S.M.A.R.T功能对系统性能是否有影响?

硬盘记录S.M.A.R.T信息有两种方式,第一种是“在线(On-line)”收集,所谓在线收

集就是硬盘在工作时,根据硬盘的实际工作状态收集到的信息,硬盘实时或在指定时间段

内更新自身的S.M.A.R.T数据。举例来说,如果一个ATA硬盘在写入数据到一个扇区时,

遇到一个不可修正的错误,硬盘会及时把这个信息更新到SMART数据中;对于SCSI硬盘,

如果它设定的S.M.A.R.T更新周期是4分钟,则它会把在4分钟内收集到的相关S.M.A.R.T

信息更新到S.M.A.R.T数据区,然后再开始下一个周期的跟踪。在线收集状态对系统性能

没有影响。

第二种是“离线(off-line)”收集,离线收集是硬盘收到主机发来的一些特定指令时而

进行自检测试,此时硬盘会处于“idel”状态或错误修正状态,在这类情况下,硬盘自身

将作大量动作以测试健康状态,导致硬盘对主机发出的正常要求产生延迟。所以离线收集

状态会造成系统性能的下降。

4.S.M.A.R.T技术对相关信息的记录是否有周期性?

对于SCSI硬盘而言,记录S.M.A.R.T信息有周期性,一般情况下周期处于4分钟~

120分钟之间。这个值在硬盘出厂时就已设定,并且只能通过专业软件进行修改;而对于

ATA硬盘,S.M.A.R.T信息的记录则没有周期性。

总结

经过近9年的发展,S.M.A.R.T技术已成为ATA/SCSI规范中不可或缺的部分。目前,

硬盘厂商关于数据保护技术的开发和研究,也基本是建立在S.M.A.R.T技术基础上的。通

过本文的分析可以看出,S.M.A.R.T具有被动性的检测、预警功能,被新兴的数据保护技

术衍生为可主动修复的功能。随着硬盘技术的更新,我们有理由相信,S.M.A.R.T技术将

给用户的数据提供更多保障。

S.M.A.R.T(Self Monitoring Analysis and Reporting Technology /自我监测、分析

与报告技术)是为了提高硬盘数据的安全性而开发的。它可以使硬盘实时检查自身的状态,

通过一定机理及时分析出潜在的问题,报告给系统,有时甚至能给出预计的硬盘故障日期,

实际就是一种预警技术。这个功能可以比较客观的反映硬盘目前的健康状况。

Value/Current(当前值) 当前硬盘改属性的值。

Worst(最坏值) 该属性出现过的峰值。

Threshold/Warn(阈值/临界/极限值) 硬盘厂商所规定的该属性峰值。如果某个属性

超过Threshold规定的极限值时,就表示你的硬盘可能出现了问题。

Raw Values/Data (Raw值/数据) 。和该属性有关联的数据总值。

怎么看这类属性?

主要是看Raw和Worst的值是否还在临界值之内(>或<临界值)

一般使用软件如HDTune、CrystalDiskInfo等,一般属性中有黄色或者红色你就要注

意了,硬盘可能快坏了,要是还在保修期内,就赶紧备份数据,送去检修。

下面我们来介绍各个属性(按2010年2月11日 维基百科 上的解释)

ID Hex =英文属性名 / 中文属性名 属性描述

--------------------------------------------------

01 01 =Read Error Rate / (底层)数据读取错误率

指从磁盘表面读取数据时发生的硬件读取错误的比率,Raw值对于不同的厂商有着不

同的体系,单纯看做1个十进制数字是没有任何意义的。

02 02 =Throughput Performance / 吞吐性能(读写通量性能)

Raw值越高越好

整体(普通)的硬盘驱动器的吞吐性能。如果这个属性的值一直在下降有很大的可能性

是硬盘有问题了。

* 一般在进行了人工 Offline S.M.A.R.T. 测试以后才会有值。

03 03 =Spin-Up Time / 马达旋转到标准转速所需时间

Raw值越低越好

主轴旋转加速的平均时间(从零转速到完全运转(标准转速)[毫秒])。

单位也可能为秒。

如果是0的话证明这一项没有读对,或者是这一项的数据生成错误。不应该出现0的

结果。

04 04 =Start/Stop Count / 启动/停止计数

马达 启动/停止 周期的计数。当马达启动或硬盘完全停止工作后(断开电源)启动和硬

盘从睡眠模式回复到先前状态,计数都会增加。

05 05 =Reallocated Sectors Count / 重新配扇区的计数

Raw值越低越好

对重新分配的扇区的计数,当硬盘发现一个 读取/写入/校验 错误时它将这个扇区标

示为“重新分配”,并且将数据传输到一个特殊的保留区(空闲区)。这个过程也称为是“重

定向”,这个重新分配的扇区叫做“重新映射”。这就是为什么,现在的硬盘当进行表面

测试的时候是找不到“坏块”的,所有的坏块都被隐藏在重新分配的扇区中。然而,随着

重新定位的扇区增加,读取/写入速度趋向于降低。Raw值通常代表一系列已经发现和重

映射的坏扇区,因此,这个属性值越高,硬盘就有越多的扇区被重定位,所以这个值是越

小越好。

06 06 =Read channel Margin / 读取通道边界

读取数据时通道的边界,这个属性的功能并不明确

07 07 =Seek Error Rate / 寻道错误率

磁头寻道错误的比率,如果机械定位系统中有局部的故障,那么寻道错误率会增加,

这种故障是多种因素造成的。Raw值对于不同的厂商有着不同的体系,单纯看做1个十进

制数字是没有任何意义的

08 08 =Seek Time Performance / 寻道时间性能

Raw值越高越好

磁头寻道操作的平均性能,如果这个属性的值持续下降,这是机械子系统有问题的标

09 09 =Power-On Hours (POH) / 累计通电时间

Raw值越低越好

通电时间计数,Raw值显示在通电状态下的总小时数(或者是 分钟,秒,取决于制造

商)

磁盘加电时间。初始值的字段显示为此装置总开机时间的累计。

10 0A =Spin Retry Count 或 Spin-up Retry Count / 旋转重试计数 或 马达重试

计数

Raw值越低越好

马达重试启动尝试的的总数,这个属性存储马达尝试启动的到全速运转(第一次尝试失

败的情况)的总数,这个属性的值的上升,是硬盘机械子系统有问题的标志

11 0B =Recalibration Retries / 校准重试

Calibration_Retry_Count / 校准重试计数

Raw值越低越好

这个属性指被要求重新校验的次数(第一次尝试失败的情况下)。这个属性的值的上升,

是硬盘机械子系统有问题的标志

12 0C =Power Cycle Count / 通电周期计数

这个属性是指这个硬盘电源 开/关 周期的总数。

这是个寿命参考值,本身不具任何指标性。

13 0D =Soft Read Error Rate / 软件读出误码率(可校正读出误码率)

Raw值越低越好

报告给操作系统的未修正的读取错误。

高值暗示有扇区不稳定。

183 B7 =SATA Downshift Error Count / SATA 降档错误计数

西部数据和三星的属性。

184 B8 =End-to-End error / 端对端错误

Raw值越低越好

这个属性是HP的SMART IV技术的一部分,它表示传输通过高速缓存内存数据缓冲

区后主机和硬盘驱动器间的校验数据不匹配。

185 B9 =Head Stability / 头稳定性

西部数据的属性。

186 BA =Induced Op-Vibration Detection / 感应运算振动检测

西部数据的属性。

187 BB =Reported Uncorrectable Errors / 反馈无法校正的错误

Raw值越低越好

不能使用硬件ECC恢复的错误总数。

188 BC =Command Timeout / 命令超时

Raw值越低越好

因为HDD超时导致放弃操作的数量,通常情况下,这个属性值应该等于0,如果这个

只远远高于0,那么,很可能电源供应有很严重的问题,或者数据线被氧化。

189 BD =High Fly Writes / 高飞写入

Raw值越低越好

HDD生产商实现 一个飞行高度监视器来尝试对于检测到记录头正在飞出它的正常操

作范围时的写入操作提供额外的保护,如果发生不安全的飞行高度条件,写入进程停止工

作,信息将被重写或者重定向到磁盘上一个安全的区域。这个显示在硬盘生命周期内检测

到的这些错误的总数。这个特性实现在大多数现代的希捷驱动器和一些西部数据的驱动器

中,西部数据驱动器开始于 WD企业级WDE18300和WDE9180 Ultra2 SCSI硬盘驱动

器,它将被包含在未来所有西部数据企业级产品中。

190 BE =Airflow Temperature (WDC) / 气流温度(西部数据)

Raw值越低越好

西部数据硬盘上的气流温度(和[C2]的 Temperature 数值一样,但是在有些型号上臂

当前值会少50.此值已经废弃了)。

190 BE =Temperature Difference from 100 / 从100开始的温差

Raw值越高越好

值和 (100 – 温度°C)相同, 允许制造商对于符合的最高温度设置一个最小限制(可能

是希捷专有?)。

191 BF =G-sense Error Rate / 加速度错误率 或 震动侦测错误率

Raw值越低越好

因外来的冲击和震动导致的错误数。

192 C0 =Power-off Retract Count / 断电磁头缩回计数

Emergency Retract Cycle Count (Fujitsu) / 紧急回缩周期计数(富士通)

Raw值越低越好

磁头被载离媒体的次数计数。磁头能在没完全断电的前缩回。

194(C2) Temperature (越小越好,通常无阀值)

当前内部温度。

196(C4) 重新映射事件计数 Reallocetion Event Count (应小于阀值)

重新映射操作的计数值。这个属性值表明了将重新映射扇区的数据转移到空闲区域的

尝试总次数。成功的转移和不成功的转移都会被计数。

197(C5) 当前待映射扇区计数 Current Pending Sector Count (应小于阀值)

“不稳定的”扇区数量,即等待被映射的扇区数量。 如果不稳定的扇区随后被读写成

功,这个值会降低,扇区也不会重新映射。扇区读取错误不会造成重新映射,扇区只会在

写入失败时发生重新映射。这个值有时候会有问题,因为带缓存写入不会重新映射扇区,

只有直接读写才会真正写入磁盘。

198(C6) 无法校正扇区计数 Uncorrectable Sector Count (应小于阀值)

读写扇区时发生的无法校正的错误总计数。这个值上升表明硬盘表明有缺损或者机械

系统有问题。

199(C7) 直接内存访问校验错误计数 UltraDMA CRC Error Count (应小于阀值)

通过接口循环冗余校验(Interface Cyclic Redundancy Check,ICRC)发现的通过接口

电缆进行数据传输的错误。

200(C8) 写入错误率 Write Error Rate (应小于阀值)

写入一个扇区时发生错误的总数